高、低溫試驗(yàn)是模擬環(huán)境試驗(yàn)中*的試驗(yàn)設(shè)備，環(huán)境試驗(yàn)的試驗(yàn)場(chǎng)地應(yīng)能具有廣泛的代表性，能進(jìn)行近可能多的試驗(yàn)項(xiàng)目，并且應(yīng)與將來(lái)可能作戰(zhàn)的環(huán)境近可能地接近。但是，環(huán)境試驗(yàn)場(chǎng)往往與真實(shí)的使用環(huán)境存在差別 .

   高溫試驗(yàn)：試驗(yàn)中兵器處于高溫空氣中，但不受到陽(yáng)光直接照射。試驗(yàn)針對(duì)高溫 季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等熱源處儲(chǔ)藏或使用兵器的情形。僅當(dāng)太陽(yáng)輻射試 驗(yàn)不能檢驗(yàn)高溫效應(yīng)時(shí)才進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)在高溫環(huán)境中儲(chǔ)藏或使用 的性能。 

　 低溫試驗(yàn)：試驗(yàn)適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗(yàn)的目 的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制和作戰(zhàn)。